新元鋒精密股份有限公司
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SENresearch 4.0 光譜橢圓偏振儀
涵蓋 190 nm 至 3,500 nm 極寬光譜範圍,採用創新 SSA 步進掃描技術(無移動部件)與快速 FTIR 橢圓偏振儀設計,可精準量測高達 200 µm 的厚膜與全穆勒矩...
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SENresearch 4.0 光譜橢圓偏振儀
SENTECH SI 500 ALE 原子層蝕刻系統 (Atomic Layer...
本系統是高階電漿製程的革命性延伸,專注於提供穩定的低壓低功率電漿環境。結合專利平面三螺旋天線(PTSA)技術、動態基台控溫與背面氦氣冷卻,實現在超低離子能量下的數位化週期性蝕刻。支...
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SENTECH SI 500 ALE 原子層蝕刻系統 (Atomic Layer...
SENTECH SI 500 ICP-RIE 電漿蝕刻系統(含 Cryo / D...
PTSA-ICP 電漿源的高階蝕刻平台:低損傷、高深寬比、高蝕速。可擴充低溫(Cryo)、DRIE 深矽蝕刻、ALE 原子層蝕刻;另有緊湊型 RIE(SI 591、Etchlab ...
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SENTECH SI 500 ICP-RIE 電漿蝕刻系統(含 Cryo / D...
SENTECH SI PEALD 電漿增強原子層沉積系統
SI PEALD 為高性能電漿增強原子層沉積系統,採用真正遠端電漿源技術,可在低於 100°C 的條件下實現高均勻性與高順形性的薄膜沉積。系統適用於敏感基材與複雜3D結構,並支援 ...
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SENTECH SI PEALD 電漿增強原子層沉積系統
SURAGUS EddyCus® lab 2020 TM
EddyCus® lab 2020 TM 為德國 SURAGUS 推出的桌上型非接觸式量測設備,採用高精度渦電流技術,專為導電薄膜方塊電阻與金屬層厚度單點量測而設計。
本系統...
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SURAGUS EddyCus® lab 2020 TM
Attolight Allalin CL System
Allalin 為 Attolight 推出的晶圓級 Cathodoluminescence(CL)分析系統,整合 SEM 與高效率光學模組,可進行 CW-CL、TR-CL 與量子...
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Attolight Allalin CL System
PTC 574CM 表面溫度檢測貼
PTC 574CM 為被動式表面溫度檢測貼,量測範圍 10–260°C,無需電源即可快速顯示溫度,具備強力磁鐵與彈簧夾設計,適用於工業設備、管線與實驗室環境之即時溫度確認。
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PTC 574CM 表面溫度檢測貼
Theris NanoShell 奈米粒子殼層鍍膜模組
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Theris NanoShell 奈米粒子殼層鍍膜模組
Theris 超高真空奈米粒子沉積PVD設備
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Theris 超高真空奈米粒子沉積PVD設備
Theris TAS-RF原子源 超高真空奈米粒子沉積模組
無離子的氧化物和氮化物沉積
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Theris TAS-RF原子源 超高真空奈米粒子沉積模組
Theris NanoStream 超高真空奈米粒子沉積模組
這個NanoStream源範圍使用改良的直流濺射源來從金屬靶材(如銅盤)產生蒸氣。通過精心控制源頭的壓力、等離子體溫度和氣體混合物的流量,蒸氣會凝結成納米粒子,就像雲中的水滴形成一...
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Theris NanoStream 超高真空奈米粒子沉積模組
XVA-160αⅡ”Z” 高解析度3D X-ray CT (斷層掃描)
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XVA-160αⅡ”Z” 高解析度3D X-ray CT (斷層掃描)
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